GD32 MCU ADC误差实测心得体会

qn_zd

测试开发板：GD32307C_EVAL 2020-6 V1.1

测试程序：GD32F30x_Firmware_Library_V2.2.0\Examples\ADC\ADC0_regular_channel_with_DMA
测试电路：

通过试验，有如下关于提高ADC采集准确性的结论：
1.去掉校准：
   校准不一定需要加，有时候去掉校准，ADC采集值更准；
2.增加采样时间：
   提高采样时间，可以匹配更大的信号源内阻，有时候可以使ADC采集值更准；
   该方法的理论依据如下：
，该公式具体解释可以在芯片规格书电气特性之ADC一章查到；
3. 调整合适的量程：
   在一定的ADC测量范围（量程）内，越大的待测电压能测得越准，越小的待测电压测得误差偏大；